隨著AI產業興起，從大型語言模型訓練到即時推論應用，高效能運算的需求持續攀升，也同步帶動晶片、AI伺服器、記憶體（DDR4、DDR5）及封測等供應鏈蓬勃發展。隨著運算次數與切換頻率持續提升，對硬體穩定性的要求也隨之升高。其中，看似微不足道的電子接點，由於必須保持穩定的導通品質，以確保訊號傳輸與運算切換順暢，接觸電阻（Contact Resistance）是影響系統可靠性的重要環節。。
電子元件中，電流與訊號並非憑空傳遞，而是透過各種接點才能順利流動。無論是記憶體模組的金手指、IC封裝段的焊球與PIN腳，這些接點之間所產生的阻抗，便是所謂的接觸電阻（Contact Resistance）。當接觸狀況良好時，訊號與電力能穩定傳輸；一旦接點品質變差，即使阻值只出現微小變化，在高頻、高速切換的運算環境下，也可能對高頻運算或系統穩定性造成影響，進而影響訊號傳輸、電力供應甚至整體系統的可靠性。
特別是在高階運算設備中，任何潛在的不穩定因素都可能被放大，就算是微小的顆粒污染，一旦附著在接點表面，都可能使接觸電阻升高。這類肉眼難以察覺的污染，往往是影響產品良率與長期可靠性的隱形殺手。
這樣的風險並不僅存在於消費性或伺服器電子領域，在車用電子與工業應用中更是被高度重視。新版VDA 19.1將「接觸電阻異常」納入重要失效模式，顯示在電池系統、電機元件及輕量化結構領域，對顆粒污染物的容忍度顯著降低以及接點品質對車用電子的重要性，進一步提升清潔度標準要求。
元利清潔度實驗室依循 VDA 19.1 規範執行相關清潔度測試，涵蓋封裝、組裝及連接階段的顆粒污染評估，協助客戶提升產品穩定性與可靠性。透過清潔度測試，不僅能及早發現影響接觸電阻的顆粒來源，也有助於製程優化與品質控管，確保整體系統可靠、安全。
作者：清潔度實驗室工程師 賴育忠／編Editor: Yeung Nga Tong
